一、恒溫恒濕試驗箱產(chǎn)品介紹

使用于航空航天、電工電子、儀器儀表、材料設(shè)備、零部配件等試驗樣品做高低溫濕熱例行試驗、耐寒試驗、高低溫交變濕熱試驗、恒溫恒濕試驗、低溫儲存，以便在擬定環(huán)境條件下進(jìn)行試驗儲存后對產(chǎn)品的性能、行為作出分析及評價。

二、執(zhí)行滿足標(biāo)準(zhǔn)及試驗方法

GBT10586-2006濕熱試驗箱技術(shù)條件。

GB10592-2008高低溫試驗箱技術(shù)條件（溫度交變）。

GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗A:低溫(IEC60068-2-1:2007)。

GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗B:高溫(IEC60068-2-1:2007)。

GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱試驗(IEC60068-2-78:2001)。

GB/T2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Db:交變濕熱12h+12h循環(huán)(IEC60068-2-30:2005)

GB/T2423.9-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cb:設(shè)備用恒定濕熱(IEC60068-2-56)。

GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗N:溫度變化(IEC60068-2-14)。

GJB150.3A-2009Jun用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：高溫試驗。

GJB150.4A-2009Jun用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：低溫試驗。

三、恒溫恒濕試驗箱技術(shù)參數(shù)